AI-6000介質(zhì)損耗測(cè)試儀用于現(xiàn)場(chǎng)抗干擾介損測(cè)量，或試驗(yàn)室精密介損測(cè)量。儀器為一體化結(jié)構(gòu)，內(nèi)置介損電橋、變頻電源、試驗(yàn)變壓器和標(biāo)準(zhǔn)電容器等。測(cè)量結(jié)果由大屏幕液晶顯示，自帶微型打印機(jī)可打印輸出。

XK-V型自動(dòng)介質(zhì)損耗測(cè)試儀是一種新穎的測(cè)量介質(zhì)損耗角正切（tgδ）和電容量（Cx）的自動(dòng)化儀器。可以在功頻高電壓下，現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設(shè)備的介質(zhì)損耗角正切（tgδ）和電容量（Cx）。與西林電容電橋相比，具有操作簡(jiǎn)單、自動(dòng)測(cè)量、讀數(shù)直觀、無(wú)須換算、精度高、抗干擾能力強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn)。儀器內(nèi)附標(biāo)準(zhǔn)電容器和升電壓裝置，在“內(nèi)接”方式下使用，無(wú)須其他外接設(shè)備，

XDJS-II異頻抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀全自動(dòng)測(cè)量各種高壓電氣設(shè)備的絕緣介質(zhì)損耗因數(shù)tgδ和電容量Cx。

XDBS型油介質(zhì)損耗測(cè)試儀采用電磁感應(yīng)加熱技術(shù)，加熱均勻，升溫速度快，時(shí)間短。輸出電壓0-2000V連續(xù)可調(diào)，適合不同試品的各電壓等級(jí)需要。